大家好 小弟目前在科技業工作 device(Si base)需要做一些soft error的測試 有在文獻上找過資料 看到大多數paper討論照射X-ray的實驗 condtion可能會寫成 10krad(Si) 之類的 目前我的理解是 X-ray本身可以用蓋格計數器 (Geiger counter) 檢測量測點到source端在時間點上的累積能量 假設我在檢測點上固定一定時間收到的100rad 接著我把device(Si) 擺在同個地方 (一樣source condition 跟時間) 這樣可以說得到的能量是100rad(Si)嗎? 會這樣問是因為 我查資料 蓋格計數器本身是用氣體跟光子交互作用來換算能量 所以得到的能量如果要轉換Si的情況 是否要考慮到absorption coefficient? 所以如果蓋格計數器收到 100rad 同樣條件跟距離點 其實Si會收到更多能量? 最後想問一個問題 檢測X-ray的能量 除了蓋格計數器 還有什麼儀器嗎? 抱歉 小弟是電子方面出身 X-ray這些的不是很清楚 麻煩大家了 --

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