大家好 小弟目前在科技业工作 device(Si base)需要做一些soft error的测试 有在文献上找过资料 看到大多数paper讨论照射X-ray的实验 condtion可能会写成 10krad(Si) 之类的 目前我的理解是 X-ray本身可以用盖格计数器 (Geiger counter) 检测量测点到source端在时间点上的累积能量 假设我在检测点上固定一定时间收到的100rad 接着我把device(Si) 摆在同个地方 (一样source condition 跟时间) 这样可以说得到的能量是100rad(Si)吗? 会这样问是因为 我查资料 盖格计数器本身是用气体跟光子交互作用来换算能量 所以得到的能量如果要转换Si的情况 是否要考虑到absorption coefficient? 所以如果盖格计数器收到 100rad 同样条件跟距离点 其实Si会收到更多能量? 最後想问一个问题 检测X-ray的能量 除了盖格计数器 还有什麽仪器吗? 抱歉 小弟是电子方面出身 X-ray这些的不是很清楚 麻烦大家了 --

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