※ 引述《shauching (Jovi Yang)》之銘言： : ※ 引述《vaster (誰要來跟我玩數獨呢)》之銘言： : : 先謝謝上面兩位所提供的資訊 : : 我會在參考看看的... : : 而我並不是要做有關在高速電路上的crosstalk的效應 : : 我要做的是用兩種不同的夾具和網路分析儀 : : 去量測相同的帶測物(DUT) : : 然後考量crosstalk的效應下 : : 找出他們之間S parameter的轉換數學式 : 你是想推出夾具的model喔？ : 不同的夾具，如你所說的，好的跟爛的， : 這兩者所代表的等效model的參數是會不同的， : 或者你想找出不同夾具對DUT的影響從而推出其關係式？ : 那我覺得應該要先把網路分析儀的FULL 2 Port校正理論先 : 搞懂吧？ 如agilent網站都可以找到相關的applicaiton note. : 或許你從他的網路一些誤差項所構成的拓樸，可以把夾具的部分 : 抽離出來，就是把每一項次一一分離出來。 : 但問題是可能還是要從SOLT的理論著手似乎比較容易找到突破點。 : SOLT:short-open-load-thru : 一點淺見，僅供參考。 我剛好有做過相關的東西 這種de-embedding的精準度對所有的東西要求都非常高 尤其高頻(我的經驗是超過7GHz) 不只儀器要好 線也要好 calibration的kit也要好 旁邊還不能有干擾 重點是..... 你如果是量跟PCB相關的東西 製造的誤差都+-10%了 你的de-embedding(根據PCB上面的traces)怎麼可能準 還有就是那些connector在高頻(超過5GHz)的model通常也不準 就算是connector manufacturor自己做的model也不一定可信(S21>0dB?) 不如在量測頻率範圍上做出取捨 然後用lump element逼近就好了 --

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