※ 引述《shauching (Jovi Yang)》之铭言： : ※ 引述《vaster (谁要来跟我玩数独呢)》之铭言： : : 先谢谢上面两位所提供的资讯 : : 我会在参考看看的... : : 而我并不是要做有关在高速电路上的crosstalk的效应 : : 我要做的是用两种不同的夹具和网路分析仪 : : 去量测相同的带测物(DUT) : : 然後考量crosstalk的效应下 : : 找出他们之间S parameter的转换数学式 : 你是想推出夹具的model喔？ : 不同的夹具，如你所说的，好的跟烂的， : 这两者所代表的等效model的参数是会不同的， : 或者你想找出不同夹具对DUT的影响从而推出其关系式？ : 那我觉得应该要先把网路分析仪的FULL 2 Port校正理论先 : 搞懂吧？ 如agilent网站都可以找到相关的applicaiton note. : 或许你从他的网路一些误差项所构成的拓朴，可以把夹具的部分 : 抽离出来，就是把每一项次一一分离出来。 : 但问题是可能还是要从SOLT的理论着手似乎比较容易找到突破点。 : SOLT:short-open-load-thru : 一点浅见，仅供参考。 我刚好有做过相关的东西 这种de-embedding的精准度对所有的东西要求都非常高 尤其高频(我的经验是超过7GHz) 不只仪器要好 线也要好 calibration的kit也要好 旁边还不能有干扰 重点是..... 你如果是量跟PCB相关的东西 制造的误差都+-10%了 你的de-embedding(根据PCB上面的traces)怎麽可能准 还有就是那些connector在高频(超过5GHz)的model通常也不准 就算是connector manufacturor自己做的model也不一定可信(S21>0dB?) 不如在量测频率范围上做出取舍 然後用lump element逼近就好了 --

※ 发信站: 批踢踢实业坊(ptt.cc) ◆ From: 68.221.118.220