作者rockho ()
看板Statistics
標題One-Way anova or GEE ?
時間Sat Oct 1 14:22:51 2016
問題是這樣的，假設某站製程有n台機台，機台生產的產品有種可量測的物理特性（比如
說長度），客戶想要知道此製程中，這n台機台是否有能力比較差的機台，一般而言我可
以將機台當作因子來做one-way anova就能找出能力比較弱的機台。
但現在問題來了，我的資料是每部機台每天蒐集10點資料，然後持續蒐集好幾天，這樣的
資料型態是否能使用大鍋炒作one-way anova，還是因為是重複收集資料必須使用GEE呢？
謝謝
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※ 發信站: 批踢踢實業坊(ptt.cc), 來自: 111.70.5.141
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※ 編輯: rockho (111.70.5.141), 10/01/2016 14:23:26
1F：推 andrew43: 只要是獨立樣本就可以。 10/01 20:59
2F：推 vennu: 你想問的是GRR嗎？（量測系統分析）,其實GRR方法論也是ano 10/03 13:24
3F：→ vennu: va喔～ 10/03 13:24
4F：→ rockho: 不是GRR 是General estimating equation 10/03 23:33
5F：→ rockho: 這裡講的機台不是量測機台 是生產機台 10/03 23:33
6F：→ celestialgod: 每天收集的點是來自同產品還是不同產品 10/04 08:17
7F：→ celestialgod: 如果是同產品，產品變異跟機台變異有可能無法分開， 10/04 08:19
8F：→ celestialgod: 造成估計錯誤，如果有重複則無此問題 10/04 08:19
9F：推 celestialgod: 如果十點只是同產品的重複測量，要把產品做為block 10/04 08:20
10F：推 celestialgod: 變數 10/04 08:20
11F：→ celestialgod: 所以這樣看起來one-way anova with block比較適合 10/04 08:21
12F：→ celestialgod: 如果都是不同產品，給一個random effect on 產品， 10/04 08:23
13F：→ celestialgod: 做anova即可 10/04 08:23
14F：推 ithinking: ANOVA即可。這裡理論上可忽略重複量測的考量 10/05 08:25
15F：→ rockho: 這裡全都是同產品，可是是破壞性實驗，同一顆IC內不同顆 10/07 14:43
16F：→ rockho: 金球的推力。 10/07 14:43