作者rockho ()
看板Statistics
标题One-Way anova or GEE ?
时间Sat Oct 1 14:22:51 2016
问题是这样的，假设某站制程有n台机台，机台生产的产品有种可量测的物理特性（比如
说长度），客户想要知道此制程中，这n台机台是否有能力比较差的机台，一般而言我可
以将机台当作因子来做one-way anova就能找出能力比较弱的机台。
但现在问题来了，我的资料是每部机台每天蒐集10点资料，然後持续蒐集好几天，这样的
资料型态是否能使用大锅炒作one-way anova，还是因为是重复收集资料必须使用GEE呢？
谢谢
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※ 发信站: 批踢踢实业坊(ptt.cc), 来自: 111.70.5.141
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※ 编辑: rockho (111.70.5.141), 10/01/2016 14:23:26
1F：推 andrew43: 只要是独立样本就可以。 10/01 20:59
2F：推 vennu: 你想问的是GRR吗？（量测系统分析）,其实GRR方法论也是ano 10/03 13:24
3F：→ vennu: va喔～ 10/03 13:24
4F：→ rockho: 不是GRR 是General estimating equation 10/03 23:33
5F：→ rockho: 这里讲的机台不是量测机台 是生产机台 10/03 23:33
6F：→ celestialgod: 每天收集的点是来自同产品还是不同产品 10/04 08:17
7F：→ celestialgod: 如果是同产品，产品变异跟机台变异有可能无法分开， 10/04 08:19
8F：→ celestialgod: 造成估计错误，如果有重复则无此问题 10/04 08:19
9F：推 celestialgod: 如果十点只是同产品的重复测量，要把产品做为block 10/04 08:20
10F：推 celestialgod: 变数 10/04 08:20
11F：→ celestialgod: 所以这样看起来one-way anova with block比较适合 10/04 08:21
12F：→ celestialgod: 如果都是不同产品，给一个random effect on 产品， 10/04 08:23
13F：→ celestialgod: 做anova即可 10/04 08:23
14F：推 ithinking: ANOVA即可。这里理论上可忽略重复量测的考量 10/05 08:25
15F：→ rockho: 这里全都是同产品，可是是破坏性实验，同一颗IC内不同颗 10/07 14:43
16F：→ rockho: 金球的推力。 10/07 14:43