小弟不才 領域與你相似 僅就與reviewer攻防的角度回答你 ※ 引述《REGEIJI (保鮮膜一哥)》之銘言： : 我想 這個板上臥虎藏龍 : 說不定可以集思廣益 化不可能為可能 : 事情是這樣子的 日前收到了PAPER的revise (major revise) : 兩位reviewer 其中一位真的佛心來著 只是指出了幾個問題 要我修改過就OK : 也給了滿分四分的評價 : 可是另一位就沒有這麼好過了 她直接建議reject 評價 兩分 : 其中讓我最困惑的 就是他講的這段話 : " There are no any evidences showing stacking faults, : threading dislocations, Ga-vacancies, and N-vacancies from the present : experimental information." : 我的問題是 我的PAPER裡面 我有利用XRD Omeha-2theta scan 來證明stacking faults的 : 改進 也利用了XRD Omega scan 來證明了 threading dislocations 的改進 : 而Ga-vacancies, and N-vacancies 則是由PL的缺陷發光來證實有減少 : 但是reviewer卻認為 沒有足夠證據證明這些東西的存在....... 他講得沒錯 你提的實驗都是非直接證據 僅證明crystal quality確實改善 但我認為stacking faults,threading dislocations減少的直接證據應為 TEM或是EPD 而PL缺陷發光也不是Ga-vacancies, and N-vacancies的直接證據 像我這種懶得補實驗的人 就會將reviewer提到的重點找出引用數很多或是大咖的paper做佐證 或是適當修改文章的說詞 比方說多用"可能與XX相關"的口氣去說明 才不會被打死 我覺得只要回答夠有誠意 應該不用補實驗也能被accept : 可是一般的PAPER 都是利用這些實驗來證實這些缺陷存在的阿..... : 想請問有經驗的前輩 這樣我該怎麼處理? 如果說我是對的話? : 如果我是錯的話 我想應該沒救了 stacking fault 以及threading dislocation 可以用 : TEM來佐證 可是......Ga-vacancies 除了用PL推測 我還真的想不出要用什麼證明阿.... : 以上 不知道各位有沒有什麼錦囊妙計可供參考....感恩 加油 --

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