作者littlest (讀冊人...)
看板PhD
標題Re: [問題] 關於Ni結晶度的量測 (急~~~)
時間Mon Apr 4 21:29:03 2011
感謝各位專家的熱心回應, 真的讓我受益良多,
剛剛重新把 SAED 看了一下, 如下面連結:
http://0rz.tw/UXBF1
除了原本已經標定:五種不同顏色的多晶Ni之外,
另外有個白色箭頭處, 看起來像是amorphous環的東西,
當時因為XRD沒有打出對應的訊號, 所以就沒有標定它,
請問各位專家, 那是否就有可能是amorphous的 NiO 或是 Ni(OH)2 ??
當然, 我會聽從reviewer的建議去做XPS, 只是擔心時間上會來不及, 所以需要備胎方案,
不好意思, 問了一堆好像是蠢問題的東西,
因為我本身是高分子領域的, 所以對於鑑定金屬結構的東西不是那樣熟悉,
boss又出國去了, 等他回國也快要到了回revision的期限了,
所以我必須趁這段時間把該補data的部分趕緊補完,
再次感謝各位大大的幫忙,
到時候要是運氣好上了之後再PO篇投稿心得回饋~~
※ 引述《littlest (讀冊人...)》之銘言：
: 之前投稿一篇paper, 關於利用無電電鍍得到多孔性結晶鎳的研究,
: 最近結果回來了, major revision,
: 我們用了SAED跟XRD鑑定合成出來了鎳是高度結晶性的,
: 可是reviewer給的其中一段comments是這樣的:
: -----
: Both SAED and XRD can only detect crystalline impurities,
: but I would expect at least the presence of an amorphous oxide layer.
: Photoemission spectroscopy should be used to check for the presence of
: an oxide layer.
: -----
: 因為這一篇研究是我第一次跨到金屬材料領域, 所以有些地方不是很了解,
: 想請問對於金屬材料鑑定熟悉的專家, 如果從我的SAED跟XRD結果,
: 都無法明顯看到 NiO 或是 Ni(OH)2 的存在時, 真的如reviewer講得, 證據仍不足,
: 還是要做 XPS 的量測嗎? 還是說有其他更簡單跟直接的證據去說服這件事呢?
: 此外, 若要量測多孔性材料的密度時,
: 有什麼方法可以量測小量的sample?
: (因為sample量很少, 所以希望檢測的方法越不消耗sample越好)
: 因為editor給我的回覆時間只有三星期, 怕時間會來不及做實驗,
: 謝謝各位大大回覆
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◆ From: 61.216.4.103
1F：推 aaggee:你有拍cross-section image嗎? 04/05 18:34
2F：→ aaggee:你要先確定NiO的晶格間距是多少? 才能知道會落在哪個ring上 04/05 18:36
3F：→ littlest:這是用切片機切出來的, 所以確定是sample內部結構 04/05 18:40
4F：推 aaggee:我的意思是說 有薄膜橫截面影像圖嗎? 有oxide可以看得出來 04/05 20:30
5F：推 AQUAzero:那個是不是銅網上碳膜造成的ring呀?? 04/06 00:25
6F：推 whc760123:你看到的光暈都是a 箭頭標出來的只是不太清楚的多晶面 04/10 00:06