作者littlest (读册人...)
看板PhD
标题Re: [问题] 关於Ni结晶度的量测 (急~~~)
时间Mon Apr 4 21:29:03 2011
感谢各位专家的热心回应, 真的让我受益良多,
刚刚重新把 SAED 看了一下, 如下面连结:
http://0rz.tw/UXBF1
除了原本已经标定:五种不同颜色的多晶Ni之外,
另外有个白色箭头处, 看起来像是amorphous环的东西,
当时因为XRD没有打出对应的讯号, 所以就没有标定它,
请问各位专家, 那是否就有可能是amorphous的 NiO 或是 Ni(OH)2 ??
当然, 我会听从reviewer的建议去做XPS, 只是担心时间上会来不及, 所以需要备胎方案,
不好意思, 问了一堆好像是蠢问题的东西,
因为我本身是高分子领域的, 所以对於监定金属结构的东西不是那样熟悉,
boss又出国去了, 等他回国也快要到了回revision的期限了,
所以我必须趁这段时间把该补data的部分赶紧补完,
再次感谢各位大大的帮忙,
到时候要是运气好上了之後再PO篇投稿心得回馈~~
※ 引述《littlest (读册人...)》之铭言:
: 之前投稿一篇paper, 关於利用无电电镀得到多孔性结晶镍的研究,
: 最近结果回来了, major revision,
: 我们用了SAED跟XRD监定合成出来了镍是高度结晶性的,
: 可是reviewer给的其中一段comments是这样的:
: -----
: Both SAED and XRD can only detect crystalline impurities,
: but I would expect at least the presence of an amorphous oxide layer.
: Photoemission spectroscopy should be used to check for the presence of
: an oxide layer.
: -----
: 因为这一篇研究是我第一次跨到金属材料领域, 所以有些地方不是很了解,
: 想请问对於金属材料监定熟悉的专家, 如果从我的SAED跟XRD结果,
: 都无法明显看到 NiO 或是 Ni(OH)2 的存在时, 真的如reviewer讲得, 证据仍不足,
: 还是要做 XPS 的量测吗? 还是说有其他更简单跟直接的证据去说服这件事呢?
: 此外, 若要量测多孔性材料的密度时,
: 有什麽方法可以量测小量的sample?
: (因为sample量很少, 所以希望检测的方法越不消耗sample越好)
: 因为editor给我的回覆时间只有三星期, 怕时间会来不及做实验,
: 谢谢各位大大回覆
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◆ From: 61.216.4.103
1F:推 aaggee:你有拍cross-section image吗? 04/05 18:34
2F:→ aaggee:你要先确定NiO的晶格间距是多少? 才能知道会落在哪个ring上 04/05 18:36
3F:→ littlest:这是用切片机切出来的, 所以确定是sample内部结构 04/05 18:40
4F:推 aaggee:我的意思是说 有薄膜横截面影像图吗? 有oxide可以看得出来 04/05 20:30
5F:推 AQUAzero:那个是不是铜网上碳膜造成的ring呀?? 04/06 00:25
6F:推 whc760123:你看到的光晕都是a 箭头标出来的只是不太清楚的多晶面 04/10 00:06