作者ewboy ( )
看板NTU-EM93
標題[轉錄]Re: [問題] EEPROM's Cell
時間Sat Apr 10 22:52:33 2010
※ [本文轉錄自 Electronics 看板]
作者: jfsu (水精靈) 看板: Electronics
標題: Re: [問題] EEPROM's Cell
時間: Fri Apr 9 15:41:29 2010
※ 引述《DrBlackJack (怪醫黑傑克)》之銘言:
: 請問一下
: 關於EEPROM的Cell設計
: 其Cell在寫入的部份是有其壽命限制
: 那麼假設在Cell其壽命終止後,再持續對這個Cell做寫入的動作
: 是否會影響其它Cell的Data?
: 例如因為一直寫入,在這壽命終止的cell上一直累積電荷
: 而這些電荷漏電至其它cell上,導致其它cell的data被影響?
: 若這樣的情況成立,那麼這是否可歸類為EEPROM設計不良?
: 不知EEPROM在設計上的規範是否有提到類似這樣的情況?
這不是設計不良,應該說是cell本身的元件特性,因為你每一次的
寫入(program/erase)就是一種對其氧化層的stress。
Cell的壽命,或者應該說是EEPROM有兩個特色是跟壽命有關
一個是data retention,另一個是P/E cycle。
依你說的,應該是屬於P/E cycle。一旦過了這段期間,cell其實還是可以寫入(P/E)
只是寫成'0'的資料容易流失,要抹除成'1'需要更花時間。
一般而言,同樣的製程下,該cell array上的每一個cell特性應該是略同的。
如果有幾個特別容易漏電(BL or WL short),那我們會去做repair的動作
再不行,那就只能刷掉了。
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在臺灣,何謂R&D工程師?
1.Reverse and Decap :IC反相工程,去膠,打開封裝,拍照,複製電路佈局。
2.Resign and Die :沒死的就操到辭職,沒辭職的就操到死。
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但是外派到大陸的臺彎郎,晚上是R (鴨)陪客戶,白天是D (豬)任人宰割!
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