※ [本文轉錄自 phys86 看板] 作者: nitw (a美商國家儀器) 看板: phys86 標題: <文章>多通道雷射光陣列二極體(VCSEL)之特性量測與檢驗 時間: Wed Apr 13 00:01:10 2005 多通道雷射光陣列二極體(VCSEL)之特性量測與檢驗 蘇大順、鍾明珠 研究助理 中央研究院物理研究所 量測/測試所面臨之問題: 近年來VCSEL (Vertical Cavity Surface Emitting Laser)元件的 優異光輸出特性和使用壽命使得它成為Parallel Optical-transceivers應用 的最佳選擇。相較於市面上絕大多是針對單一通道的量測設備， 量測類似的元件常顯得手續過於繁瑣或是必須購買昂貴的儀器。或者， 對於日後所量測得到的數據往往發生不易處理或不易作格式上的更動。 應用方案: 以PC為主的元件量測方案採用NI DAQCard量測雷射二極體元件中各通道的 順向工作區下的偏壓Vf、電流If、光輸出Po特性曲線及零偏壓狀態下之檢光二極體 (PIN Diode)之響應度(Responsivity)量測。透過LabVIEW提供的功能， 可以產生即時的元件特性圖表，在線的數值計算以進一步提高結果精準度和應用Excel分 析紀錄後的檔案等。 文章摘要 隨著電子零組件的開發，如何執行有效率的零組件測試，並符合多樣的測試要求， 以達成提高產品量率，同時減少時間、人力成本是開發測試系統的主要考量。 在這個實際的應用中，測試系統主要分為軟體與硬體介面兩個部分。 LabVIEW、DAQCard的使用分別成為縮短軟硬體開發時程不可或缺的關鍵。 尤其是以往類似的硬體研發週期需要數個月以上；但是由於不需要在電路設計中植入 ADC/DAC、Timing等電路，所以現在可以快速的在1~2個星期內完成研發週期。 而軟體研發也不需要等到硬體介面的完成，可以在提案完成後同步與硬體研發作業。 若需要完整的文章內容檔案， 可至下列網頁連結>> http://digital.ni.com/worldwide/taiwan.nsf/web/all/ A0F81BD6C64573CB48256FD5003AE167?OpenDocument&node=200153_zht (上下兩行加一起) --

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