作者nitw (a美商国家仪器)
看板NTHU_Physics
标题多通道雷射光阵列二极体(VCSEL)之特性量测与检验
时间Wed Apr 13 00:29:25 2005
※ [本文转录自 phys86 看板]
作者: nitw (a美商国家仪器) 看板: phys86
标题: <文章>多通道雷射光阵列二极体(VCSEL)之特性量测与检验
时间: Wed Apr 13 00:01:10 2005
多通道雷射光阵列二极体(VCSEL)之特性量测与检验
苏大顺、锺明珠 研究助理 中央研究院物理研究所
量测/测试所面临之问题:
近年来VCSEL (Vertical Cavity Surface Emitting Laser)元件的
优异光输出特性和使用寿命使得它成为Parallel Optical-transceivers应用
的最佳选择。相较於市面上绝大多是针对单一通道的量测设备，
量测类似的元件常显得手续过於繁琐或是必须购买昂贵的仪器。或者，
对於日後所量测得到的数据往往发生不易处理或不易作格式上的更动。
应用方案:
以PC为主的元件量测方案采用NI DAQCard量测雷射二极体元件中各通道的
顺向工作区下的偏压Vf、电流If、光输出Po特性曲线及零偏压状态下之检光二极体
(PIN Diode)之响应度(Responsivity)量测。透过LabVIEW提供的功能，
可以产生即时的元件特性图表，在线的数值计算以进一步提高结果精准度和应用Excel分
析纪录後的档案等。
文章摘要
随着电子零组件的开发，如何执行有效率的零组件测试，并符合多样的测试要求，
以达成提高产品量率，同时减少时间、人力成本是开发测试系统的主要考量。
在这个实际的应用中，测试系统主要分为软体与硬体介面两个部分。
LabVIEW、DAQCard的使用分别成为缩短软硬体开发时程不可或缺的关键。
尤其是以往类似的硬体研发周期需要数个月以上；但是由於不需要在电路设计中植入
ADC/DAC、Timing等电路，所以现在可以快速的在1~2个星期内完成研发周期。
而软体研发也不需要等到硬体介面的完成，可以在提案完成後同步与硬体研发作业。
若需要完整的文章内容档案， 可至下列网页连结>>
http://digital.ni.com/worldwide/taiwan.nsf/web/all/
A0F81BD6C64573CB48256FD5003AE167?OpenDocument&node=200153_zht
(上下两行加一起)
--
※ 发信站: 批踢踢实业坊(ptt.cc)
◆ From: 220.139.249.160
※ 编辑: nitw 来自: 220.139.249.160 (04/13 00:01)
--
※ 发信站: 批踢踢实业坊(ptt.cc)
◆ From: 220.139.249.160