※ 引述《swaidatol (乳牛小喇叭)》之銘言： : 抱歉 : 我不是學材料的 : 選修的老師出了幾個題目給我們 : 1(XPS) 2(AES) 3(SIMS) 這幾個能譜儀(不知道有沒有說錯)的原理 : 在網路上只找到他們叫能譜儀 但找不到原理 : 還有 4. Hall measurement : 變溫霍爾效應量測系統Hall Measurement, 應用於化合物半導體, 矽半導體, 電子及光電 : .....等材料上.藉由霍爾效應,可以得到半導體材料的型態(type)與摻雜濃度(carrier : concentration)及移動率(mobility) : 再來就是5. Four-point probe 4點量測系統 : 期末考題只剩下這5題找不到了 : 我想知道的再詳細一點 但好像都是常識一般 大家都沒說原理 : 所以有高手能幫我解釋一下嗎 : 或是給我介紹的連結也可以 需要是中文的 謝謝 希望大家能幫幫我的忙 第五題 四點探針量測試測量薄膜在磁場下電阻的變化 藉由等距離排列的四根探針 尖針距離2mm 外加電流10mA 2根量電流另外的測電壓 量得電阻值 再由形狀修正因子 求得片電阻 它比傳統的二點量測較為精確(助教跟我說的 如果沒記錯 XD) 另外XPS 記得好像是化學成分跟價數分析 作用原理就不支了 (冏) STEM 的量測原理 利用極化過的X光 打入磁性薄膜 由於其反射的極化光 跟薄膜內磁矩之夾角即會測出極化後X光強度 利用極化後的X光可以反映出磁矩的排列方式 我認為你最好去問助教 要不就利用圖書館的論文系統 以上答案僅供參考 (畢竟只我是個平凡的新鮮人 落難的天使 希望對您有幫助 ) --

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