※ 引述《swaidatol (乳牛小喇叭)》之铭言： : 抱歉 : 我不是学材料的 : 选修的老师出了几个题目给我们 : 1(XPS) 2(AES) 3(SIMS) 这几个能谱仪(不知道有没有说错)的原理 : 在网路上只找到他们叫能谱仪 但找不到原理 : 还有 4. Hall measurement : 变温霍尔效应量测系统Hall Measurement, 应用於化合物半导体, 矽半导体, 电子及光电 : .....等材料上.藉由霍尔效应,可以得到半导体材料的型态(type)与掺杂浓度(carrier : concentration)及移动率(mobility) : 再来就是5. Four-point probe 4点量测系统 : 期末考题只剩下这5题找不到了 : 我想知道的再详细一点 但好像都是常识一般 大家都没说原理 : 所以有高手能帮我解释一下吗 : 或是给我介绍的连结也可以 需要是中文的 谢谢 希望大家能帮帮我的忙 第五题 四点探针量测试测量薄膜在磁场下电阻的变化 藉由等距离排列的四根探针 尖针距离2mm 外加电流10mA 2根量电流另外的测电压 量得电阻值 再由形状修正因子 求得片电阻 它比传统的二点量测较为精确(助教跟我说的 如果没记错 XD) 另外XPS 记得好像是化学成分跟价数分析 作用原理就不支了 (冏) STEM 的量测原理 利用极化过的X光 打入磁性薄膜 由於其反射的极化光 跟薄膜内磁矩之夹角即会测出极化後X光强度 利用极化後的X光可以反映出磁矩的排列方式 我认为你最好去问助教 要不就利用图书馆的论文系统 以上答案仅供参考 (毕竟只我是个平凡的新鲜人 落难的天使 希望对您有帮助 ) --

※ 发信站: 批踢踢实业坊(ptt.cc) ◆ From: 140.114.219.114