矽晶圓的級別 Prime grade: 品質最佳，適用於幾乎大部分主要IC類的製造，以及各類最先進的製程 內部幾乎無缺陷存在 test grade: 學術研究中普遍使用，價格與品質的折衷。有一大部分是製造矽晶圓後若品直無法通過 prime grade測試，便會標記為test grade。 還有一種折中的叫EPi wafer 會在晶圓表面deposit 一層epi layer，讓晶圓表面更平更無缺陷 ※ 引述《zenk9980 (包子)》之銘言： : 各位先進們好 : 小弟想請教一下4吋矽晶圓在購買時業務說有分等級 : 最高是prime ,最陽春的是test : 想請問一下這兩種矽晶圓的差別?因為價差一倍 : 業務也不知道明確的差在哪裡 : 另外因為小弟買這Wafer是要做FET元件使用 : 應該是用prime比較好還是test? : FET的氧化層厚度一般來說鍍多少奈米會比較好呢 : (之前的學長是用270nm 的SiO2)? : 查了一些文獻也都大概在 300 nm : 不過因為沒有做過所以上來請教 : 不好意思麻煩大家了.謝謝 -- 本球隊一切依法行政，謝謝指教。 --

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