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※ 發信站: 批踢踢實業坊(ptt.cc) : ◆ From: 174.54.69.214 : 推 tengyuan:感謝大大，我在SEM看不到有倒下的痕跡，也沒有不平的痕跡 05/10 17:51 : → tengyuan:如果我放在室溫下讓他固化，脫模的時候是不是很容易弄斷? 05/10 17:52 (抱歉不太會用推文回一大段，讓我再佔用一下版面) 如前文所說的固化溫度或影響其彈性係數與硬度(有文獻可查)，至於其會不會斷裂 可能要請tengyuan自行判斷，考量其 aspect ratio/hardness/Young's modulus/Van der Waals Force (nano-scale) 所造成的機械特性差異，也有文獻討論過。 然而回到最根本的問題，原PO的PDMS到底有沒有成功灌注進入模內?? 首先原PO指出1. 母模可以看出繞射圖案=>表示母模有製作成功 2. 脫模後的PDMS上有印子=>有(部分?)灌注 3. PDMS上看不出繞射==>留下待會討論 還是建議tengyuan取得母模深度資料，否則以下討論也只是瞎子摸象： 1. 根據繞射公式ndsinθ=mλ，(n:refractive index, d:period, θ:diffraction angle, m:diffraction order, λ:diffraction wavelength for m-th order ) 因為不知道深度所以僅用以上簡易繞射公式，無法知道其繞射效率(diffraction efficiency) 母模週期是d=360nm，Si折射率約為n~4 (等效週期nd=1440nm)，所以隨著觀看角度不同 母模應可以呈現紫色到紅色的變化(即使深度僅為~100nm)。 然而對於PDMS而言，n~1.4，等效週期僅為~500nm (或更小)，所以即使觀測角度很大， 也頂多是看到藍紫色，且由於深度未知所以無法判斷其繞射效率，如深度僅為100nm， 那普通光源應是無法觀察，看到的樣子就會如原PO說的"有印子但無繞射"。 如果有印子話還是建議原PO再花點時間看SEM，因為charging的關係可能要多試試不同 的設定，如電壓太低可能無法成像，電壓太高會有嚴重的charging，甚至會打壞結構， 另外也可以使用不同的模式，如secondary electron detector/the in-lens detector ，同時也可切開母模看剖面(也有可能PDMS斷在裡面)。 就我個人而言，現有的實驗結果我會先儘量觀察，以找出改進的方法(如:倒了、斷掉、 部分灌入、還是根本沒進去?)，而不是再貿然更動實驗參數增加變因。 --

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