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※ 发信站: 批踢踢实业坊(ptt.cc) : ◆ From: 174.54.69.214 : 推 tengyuan:感谢大大，我在SEM看不到有倒下的痕迹，也没有不平的痕迹 05/10 17:51 : → tengyuan:如果我放在室温下让他固化，脱模的时候是不是很容易弄断? 05/10 17:52 (抱歉不太会用推文回一大段，让我再占用一下版面) 如前文所说的固化温度或影响其弹性系数与硬度(有文献可查)，至於其会不会断裂 可能要请tengyuan自行判断，考量其 aspect ratio/hardness/Young's modulus/Van der Waals Force (nano-scale) 所造成的机械特性差异，也有文献讨论过。 然而回到最根本的问题，原PO的PDMS到底有没有成功灌注进入模内?? 首先原PO指出1. 母模可以看出绕射图案=>表示母模有制作成功 2. 脱模後的PDMS上有印子=>有(部分?)灌注 3. PDMS上看不出绕射==>留下待会讨论 还是建议tengyuan取得母模深度资料，否则以下讨论也只是瞎子摸象： 1. 根据绕射公式ndsinθ=mλ，(n:refractive index, d:period, θ:diffraction angle, m:diffraction order, λ:diffraction wavelength for m-th order ) 因为不知道深度所以仅用以上简易绕射公式，无法知道其绕射效率(diffraction efficiency) 母模周期是d=360nm，Si折射率约为n~4 (等效周期nd=1440nm)，所以随着观看角度不同 母模应可以呈现紫色到红色的变化(即使深度仅为~100nm)。 然而对於PDMS而言，n~1.4，等效周期仅为~500nm (或更小)，所以即使观测角度很大， 也顶多是看到蓝紫色，且由於深度未知所以无法判断其绕射效率，如深度仅为100nm， 那普通光源应是无法观察，看到的样子就会如原PO说的"有印子但无绕射"。 如果有印子话还是建议原PO再花点时间看SEM，因为charging的关系可能要多试试不同 的设定，如电压太低可能无法成像，电压太高会有严重的charging，甚至会打坏结构， 另外也可以使用不同的模式，如secondary electron detector/the in-lens detector ，同时也可切开母模看剖面(也有可能PDMS断在里面)。 就我个人而言，现有的实验结果我会先尽量观察，以找出改进的方法(如:倒了、断掉、 部分灌入、还是根本没进去?)，而不是再贸然更动实验参数增加变因。 --

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