議題 雖然在鄭昭明教授的實驗中，出現中文字『字優』效果，但是，在其他許多實驗中，卻 往往出現中文字的「字劣」效果，其原因不明，本實驗目的在於，瞭解中文字的閱讀習 慣，是否是造成中文字辨識上的不同。 我們相信，在中文字的辨識中，有著中文字拆成不同的元件來登錄的習慣；於是乎，我 們假設中文字有著由左上到右下的閱讀習慣，導致左上的元件辨識最快。 材料： 本實驗共分為三組字（真字、干擾字與假字各20個），皆是選擇字的元件可視 為四部分的區塊，分別為左上、左下、右上以及右下，在真字部分，選擇可辨識左上及 右下元件的真字，各10個。在干擾字部分，選擇可辨識左下及右上元件的字，各10個， 其中真假字各佔一半。在假字部分，則使用windows系統中的造字程式，製造可以辨識 左上及右下元件的假字各10個。 實驗設計：獨變項是： 元件位置（左上、右下）* 字（真、假字） 2 * 2 * 10 ＝40（字） 另外，為了避免受試者產生策略，再加上干擾字 元件位置（左下、右上）* 字 （真、假字） 2 * 2 * 5 ＝20（字） 共60各字，只有真字與假字為本實驗所重視。 依變項是：測反應時間及錯誤率。 因為只有設計一個按鍵測反應時間，為避免受試者預測性按下，故實驗設計 以電腦亂數決定，是否出現部件所對應的字。 作業：判斷是否有左上到右下的閱讀習慣及對字優的影響。 實驗程序：實驗用字60個字，以電腦亂數決定出現順序。 一開始時，由主試者向受試者說明實驗程序，並給予練習，接著進入實驗階 段；實驗開始時，受試者被要求集中注意螢幕中的固定點”+”，當受試者準備好之後， 按下『ENTER』鍵，1秒後螢幕中出現「辨識元件」，顯示時間為0.5秒，在辨識元件消失 後2秒，螢幕中再顯現一個刺激字，要求受試者辨識此刺激字是否含有「辨識元件」，有 部件時，盡快按下空白鍵，我們則測量紀錄其反應時間及錯誤率，無部件請不要按空白鍵 ，過4秒後刺激字自動消失；在完成此刺激字的測驗後，請受試者重新集中注意螢幕中的 固定點”+”， 當受試者準備好之後，按下『ENTER』鍵，重複實驗過程。 存檔格式： 反應時間 回答正確與否 圖片代碼 圖片所對應的路逕(不用理他...) 圖片代碼： 1~10 左上真字, 1~5為有出現部件, 6~10無 11~20 右下真字, 11~15為有出現部件, 16~20無 21~30 左上假字, 同上.. 31~40 右下假字 41~45 左下真、假字 51~60 右上真、假字 -- PS : Wundt Illusion說明檔已經放上FTP... 大爆炸... --

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