作者stacy760414 (Hurricane)
看板Mechanical
標題[問題] 薄膜量測熱膨脹係數(CTE)
時間Wed May 31 21:55:15 2017
版上各位晚安,
公司內部要開始建立材料的熱膨脹係數,
Vender提供的是以TMA測定的CTE數值,
我們希望能量測材料在實際應用面時呈現的數值,
因此希望能將材料以薄膜方式圖佈在基材上去做量測,
目前找到的方法有微懸臂量測(From 學術界),
但sample製作相當費工,
可能無法考慮每種材料都這樣做,
同時也有找到利用奈米壓痕跡測試CTE,
但目前可以送測的單位也遇到無法量測的問題(控溫系統無法控制)
不知道各位是否有推薦可以量測的方法?
本身非機械領域,
大部分資訊都是查詢後
發現學術界會探討薄膜機械性質或特性的多為機械系,
因此來版上詢問~
隔行如隔山, 先謝謝各位指點囉!!
--
※ 發信站: 批踢踢實業坊(ptt.cc), 來自: 180.177.12.150
※ 文章網址: https://webptt.com/m.aspx?n=bbs/Mechanical/M.1496238917.A.123.html
1F：推 phisch: 可以以公司名義向宜特或SGS詢問他們家有怎樣的機台可以達 06/01 09:23
2F：→ phisch: 到你要的需求吧 06/01 09:23
3F：→ stacy760414: p大這方面我們也有詢問，但目前都沒有符合需求的測定 06/01 13:07
4F：→ stacy760414: 方式 06/01 13:07
5F：推 king786945: 熱膨脹係數不好測喔 建議你去問學校教授 06/01 13:10
6F：推 phisch: 你的薄膜是微米還是奈米等級？如果塗布在膜材上不會擔心被 06/02 01:03
7F：→ phisch: 膜材的cte干擾嗎? 如果是拉伸的pet膜還要考慮md/td方向的c 06/02 01:03
8F：→ phisch: te差異跟熱後縮等 06/02 01:03
9F：→ stacy760414: 膜材主要是2-50um等級，塗布在Si wafer上，因為想知 06/02 09:43
10F：→ stacy760414: 道實際應用狀況所以想確認有被影響狀況下的CTE 06/02 09:43