作者stacy760414 (Hurricane)
看板Mechanical
标题[问题] 薄膜量测热膨胀系数(CTE)
时间Wed May 31 21:55:15 2017
版上各位晚安,
公司内部要开始建立材料的热膨胀系数,
Vender提供的是以TMA测定的CTE数值,
我们希望能量测材料在实际应用面时呈现的数值,
因此希望能将材料以薄膜方式图布在基材上去做量测,
目前找到的方法有微悬臂量测(From 学术界),
但sample制作相当费工,
可能无法考虑每种材料都这样做,
同时也有找到利用奈米压痕迹测试CTE,
但目前可以送测的单位也遇到无法量测的问题(控温系统无法控制)
不知道各位是否有推荐可以量测的方法?
本身非机械领域,
大部分资讯都是查询後
发现学术界会探讨薄膜机械性质或特性的多为机械系,
因此来版上询问~
隔行如隔山, 先谢谢各位指点罗!!
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1F：推 phisch: 可以以公司名义向宜特或SGS询问他们家有怎样的机台可以达 06/01 09:23
2F：→ phisch: 到你要的需求吧 06/01 09:23
3F：→ stacy760414: p大这方面我们也有询问，但目前都没有符合需求的测定 06/01 13:07
4F：→ stacy760414: 方式 06/01 13:07
5F：推 king786945: 热膨胀系数不好测喔 建议你去问学校教授 06/01 13:10
6F：推 phisch: 你的薄膜是微米还是奈米等级？如果涂布在膜材上不会担心被 06/02 01:03
7F：→ phisch: 膜材的cte干扰吗? 如果是拉伸的pet膜还要考虑md/td方向的c 06/02 01:03
8F：→ phisch: te差异跟热後缩等 06/02 01:03
9F：→ stacy760414: 膜材主要是2-50um等级，涂布在Si wafer上，因为想知 06/02 09:43
10F：→ stacy760414: 道实际应用状况所以想确认有被影响状况下的CTE 06/02 09:43