我們在樣品裡面摻雜了一些雜質，paper上說如果摻雜 元素的原子半徑比較大，從XRD可以看到峰往小角偏(d-space增加) 但是我發現，每次打XRD (純樣）繞射峰就會偏來偏去了(0.1 -0.2 度左右) 我們打出來的比ICSD裡找到的也有點偏，去做有摻雜的樣品，也是類似的結果.. 根本搞不清楚摻雜是不是引起晶格扭曲.. 文獻上說摻雜引起的峰位偏移在0.1-0.5度之間，要怎麼做才能確定這麼小 的偏移量真的是摻雜引起而不是儀器沒有校准好呢? (paper也是做粉，粉末XRD真的能量到這麼准嗎? ) ps1. 我們XRD是公用儀器，管儀器的同學一直說機器非常准.. ps2. 我們是做粉，不是單晶做精修好像不太對? JADE 裡面有個功能是theta校准，裡面internal calibration有好幾個可以選 ex. SiO2 Al2O3 等等 如果要自己做校准 是把我們的樣品跟標準品混在一起打嗎 可是這樣的話若是峰有overlap 會不會更難分析? 而且好像也不可能每次都用標準品加進去測 :X 以及 internal 跟 external校准 有什麼不同啊 一般需要做這些嗎? 我以前打XRD只有扣K apha 跟去背，完全沒想過校准的事.. -_-!! --

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