我们在样品里面掺杂了一些杂质，paper上说如果掺杂 元素的原子半径比较大，从XRD可以看到峰往小角偏(d-space增加) 但是我发现，每次打XRD (纯样）绕射峰就会偏来偏去了(0.1 -0.2 度左右) 我们打出来的比ICSD里找到的也有点偏，去做有掺杂的样品，也是类似的结果.. 根本搞不清楚掺杂是不是引起晶格扭曲.. 文献上说掺杂引起的峰位偏移在0.1-0.5度之间，要怎麽做才能确定这麽小 的偏移量真的是掺杂引起而不是仪器没有校准好呢? (paper也是做粉，粉末XRD真的能量到这麽准吗? ) ps1. 我们XRD是公用仪器，管仪器的同学一直说机器非常准.. ps2. 我们是做粉，不是单晶做精修好像不太对? JADE 里面有个功能是theta校准，里面internal calibration有好几个可以选 ex. SiO2 Al2O3 等等 如果要自己做校准 是把我们的样品跟标准品混在一起打吗 可是这样的话若是峰有overlap 会不会更难分析? 而且好像也不可能每次都用标准品加进去测 :X 以及 internal 跟 external校准 有什麽不同啊 一般需要做这些吗? 我以前打XRD只有扣K apha 跟去背，完全没想过校准的事.. -_-!! --

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