作者fantasy0310 (XANXUS)
看板ChemEng
標題[問題] XRD半高寬
時間Fri Aug 30 16:08:10 2013
想請問一下
Θ-2Θscan 跟 ω scan
兩者的半高寬的差別是?
我是知道後者是用來分析缺陷程度
本身不是材料背景
另外想再請問
ψ scan 一直都看不懂
是用來算不同晶面的缺陷?
感謝
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◆ From: 122.116.12.104
1F：推 xx60732:有一個公式可以換算grain size118.169.206.133 09/06 22:18