作者fantasy0310 (XANXUS)
看板ChemEng
标题[问题] XRD半高宽
时间Fri Aug 30 16:08:10 2013
想请问一下
Θ-2Θscan 跟 ω scan
两者的半高宽的差别是?
我是知道後者是用来分析缺陷程度
本身不是材料背景
另外想再请问
ψ scan 一直都看不懂
是用来算不同晶面的缺陷?
感谢
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◆ From: 122.116.12.104
1F：推 xx60732:有一个公式可以换算grain size118.169.206.133 09/06 22:18