作者mywheat (麦田)
看板hardware
标题[请益] 美光DDR2 MemTest86 结果
时间Tue Dec 29 14:18:56 2015
设备
CPU ：Intel I5-6500【四核】3.2GHz(↑3.6GHz)/6M/HD530/65W
主机板：华硕 B150M M-ATX
记忆体：美光Micron Crucial 8G DDR4-2133 X2
电源 ：黑武士 400W
其他设备未接
除了 POWER 是去年的新品外，其他都是上周买的。
测了一下记忆体，因为这是DDR4，到网站抓了新版的MemTest86+ 6.20
结果二只都有大量的 Test 13 [Hammer test] 问题，其中一只更高达 137 个
Report 如下，测的时候都是单独一只只测
http://i.imgur.com/Bqng6lw.png
http://i.imgur.com/bFk6LhO.png
测试过程中，有穿插一条讯息，不太明白这意思是
[Note] RAM may be vulnerable to high frequency row hammer bit flips
请问这是甚麽样的错误，我该拿去换吗？
谢谢
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※ 发信站: 批踢踢实业坊(ptt.cc), 来自: 220.135.161.26
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※ 编辑: mywheat (220.135.161.26), 12/29/2015 14:25:03
1F：→ malk1986: 能交叉插记忆体测量看看吗？ 12/29 14:48
2F：→ malk1986: 比较一下并po图一下 12/29 14:50
3F：→ mywheat: 另一只测也是 Hammer error，讯息差不多，Errors:24 12/29 14:58
4F：→ mywheat: 这二条都用同一插槽测试，没换插槽测过(一条6+hr orz) 12/29 15:00
5F：→ mywheat: 刚v4.3.7版测出来是Pass，用双通道直接测，2+4槽 12/29 15:03
6F：→ mywheat: 用v6.20测单条时，都用1号槽 12/29 15:03
8F：→ mywheat: 找到这篇，看起来是要我不管他？！(英文不太好) 12/29 15:07
9F：推 HiJimmy: 就因为制程进步 闲距缩小 导致有可能会产生干扰 12/29 21:33
10F：→ HiJimmy: 所以 为来有可能 都要用有ECC验证功能的RAM 避免错误 12/29 21:33
11F：→ malk1986: 主机板和记忆体是刚买的吗？ 12/30 02:43
12F：→ mywheat: 文内有讲 "上周" 12/30 04:42