作者jocker (女神明日香)
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标题Re: [新闻] 泛铨告光焱侵犯光损侦测装置专利权 求偿2
时间Thu Mar 26 01:32:18 2026
小弟物理光电背景刚好又是光焱股东，先附单
https://i.mopix.cc/QfClfZ.jpg
虽然不是非常熟悉光损检测原理，但还是能稍微理解泛铨的系统设计
感觉泛铨的专利算是工程与现有检测技术的整合，像是柳董提到所谓的”专利核心” IRO
M似乎在2000年就导入半导体检测了。整体来说专利内容可能是工程师自然而然就想到的
组合（如果理解错误欢迎指正@@
好奇版上大大对於类似这种”工程整合型专利”的诉讼发展有什麽看法？
小弟目前打算续抱，如果跌到700就离场QQ
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