各位版上的先进大家好 想请教一个问题，实际形况如下: 用一台很旧的仪器量测元件，有时读值是对的，有时读值太大或太小， 但必须一定要使用这台机台的量测情况下，我是尽量把元件量测多次一点， ex:原本待量测元件有五个，本应该量测五次的；但我想把量测读值取多一点， 所以就一个元件量测五次，所以就共有25个读点. 还有一个前提之下， 假使有量测读值的话，必须要把这些读值纳入资料分析(不管值是偏高或偏低)， 所以我才会量测多次把偏差值大的拉回平均值. 但有人一定会质疑 万一我全部的量测读值outliner比"看似"正常值偏多那会怎麽样? 但这实际上都会发生的事情，所以还是要把多的outliner纳入资料分析. 所以小弟在这边想请问一下，有统计学上的公式或者是相关的理论， 需要这种全部的量测资料达到某个数目或者是有其他分析的技巧吗? 谢谢各位的答覆，感激不尽. 如果是跟统计软体有关请重发文章，使用程式做为分类。 统计软体，如SPSS, AMOS, SAS, R, STATA, Eviews，请都使用程式做为分类 请详述问题内容，以利板友帮忙解答，过短文章依板规处置，请注意。 为避免版面混乱，请勿手动置底问题，擅用E做档案编辑 --

※ 发信站: 批踢踢实业坊(ptt.cc), 来自: 123.195.47.215 ※ 文章网址: https://webptt.com/cn.aspx?n=bbs/Statistics/M.1492952845.A.32A.html