作者iwantzzz (我爱大自然)
看板Physics
标题[问题] 请问多功能物性测量系统
时间Thu Feb 4 12:25:34 2016
请问各位:
大猪我想测半导体材料的掺杂行为,如n/p型。听从老师建议多功能物性测量系统。
因从没用过量测仪器,也不知其原理。想问大家这仪器要去那边找原理跟使用手册。
还有其他仪器也可以快速测定半导体材料的掺杂行为,哪一种仪器比较主流呢?谢谢罗。
--
※ 发信站: 批踢踢实业坊(ptt.cc), 来自: 140.116.1.136
※ 文章网址: https://webptt.com/cn.aspx?n=bbs/Physics/M.1454559937.A.B9C.html
1F:→ speedshuffle: 问厂商 02/04 15:14
2F:推 ansen0988: Agilent 4155C 02/05 02:10
3F:→ ansen0988: Agilent 4156 02/05 02:10
4F:嘘 Panthalassa: 测 02/05 08:48