作者singshepherd (雪伯特)
看板Interdiscip
标题[情报] 微奈米力学特性量测技术研讨会
时间Thu Nov 19 16:06:53 2009
微奈米力学特性量测技术研讨会
日期：12月3日(星期四) 9:00~16:00
地点：工研院光复院区3馆119A会议室 (新竹市光复路2段321号)
报名日期：即日起
报名网址：
http://www.nml.org.tw/training.orig/course/course_details.php?id=98151
报名费：NT2,500元/每人
讲师： K. Herrmann 德国联邦国家实验室(PTB) 专家研究员
张瑞庆 圣约翰科技大学 院长
林明泽 中兴大学精密工程研究所 副教授
陈生瑞 工业技术研究院量测中心 研究员
颜宏儒 工业技术研究院材化所 研究员
内容： 时 间 单元内容(讲师)
09:00-09:50 奈米压痕术在奈米薄膜性质检测与最新发展
Development of measurement methods and measures
for film thickness (Herrmann博士)-中文讲授
09:50-10:00 Tea break
10:00-10:50 导电薄膜沈积於软性基材之残留应力与机光电性质分析
(张瑞庆院长)
10:50-11:40 Design and Development of a Novel Paddle Test
Structure for the Mechanical Behavior Measurement
of Thin Films (林明泽副教授)
13:00-14:00 奈米薄膜检测实务 (颜宏儒先生)
14:00-14:20 Tea break
14:20-15:20 奈米微力校正机构最新发展 (陈生瑞 博士)
15:20:16:00 奈米压痕机台及奈米微力机构参观
(吴忠霖、迟雅各、陈生瑞 博士)
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※ 发信站: 批踢踢实业坊(ptt.cc)
◆ From: 140.113.165.235
※ 编辑: singshepherd 来自: 140.113.165.235 (11/19 16:08)