作者jfsu (水精灵)
看板Electronics
标题Re: [问题] 半导体
时间Fri Apr 9 01:28:58 2010
※ 引述《h816090 (~Argon~)》之铭言:
: 有三个关於半导体的问题想要请教一下
: 1. 拿pn junction去做solar cell,照光去打~产生电子电洞对
: 拉出来产生电流
: 那如果加热~温度很高~一样会产生电子电洞对~为什麽量不到电流呢?
: 都有pn junction~为什麽加热这个方法却行不通呢?
solar cell是由於入射光的频率不同(光子)去产生的光伏效应,不是因为温度升高,
而产生电子电洞对的缘故。
另外,当你加热时,温度越高,PN接面的晶格振动愈强,因此载子的迁移率会降低,
当然就没有电流可言。
以上只是略述,细节请参考电子学或是固态物理中的PN接面的章节。
: 2. 不管是蒸镀铝或是e-gun镀金或银
: 为什麽看的是融点~而不是沸点呢? 不是要使金属挥发成气体~在去镀吗?
: 怎麽大家都是在谈融点呢?><"
所谓的蒸镀,是藉着对被蒸镀物体加热,利用被蒸镀物在接近熔点时的高温所具备的
饱和蒸气压,此时,原本处於固态的蒸镀源的蒸发能力将非常强,利用这些被蒸发出来
的蒸镀源原子,我们可以在离蒸镀源上方不远处的晶片表面上,进行薄膜的沉积。
所以我们只考虑被蒸镀物的熔点,而非沸点。
以上只是略述,细节请参考蒸镀原理。
: 3. 在蚀刻时~(111)面速度比(110)面慢~可是为什麽面原子密度却是
: (110)面比较大呢?~照理说面原子密度大的~蚀刻速度慢~这点没错吧?><"
: 算原子密度不是正好可以去判断蚀刻时的快慢吗? 谢谢
这跟原子密度是无关的。我想你应该知道等向性蚀刻与非等向性蚀刻吧?!
利用矽结晶面造成的蚀刻速度差异,可制作出不同的沟槽。
我们先就矽的结晶来说明(111)与(110)或是(100)蚀刻速率不同的原因
矽的结晶是呈金刚石状的结构,内部的矽原子以4条化学键的方式形成共价键。
而在表面的矽原子,其结合方式随结晶面的不同而各异。
例如,在(100)面上,4条共价键中,2条断开,2条相连。
(111) 面上,3条共价键连接,只有1条断开。
因此,(111)面比(100)面更难进行蚀刻(蚀刻速度较慢)。
以上的问题,建议原po可以去找更深入的书来看。
--
在台湾,何谓R&D工程师?
1.Reverse and Decap :IC反相工程,去胶,打开封装,拍照,复制电路布局。
2.Resign and Die :没死的就操到辞职,没辞职的就操到死。
3.Rework and Debug :计画永远跟不上变化,变化永远跟不上老板的一句话!
4.Relax and Delay :太过於轻松(Relax),那麽就会Random Death (随时阵亡)
但是外派到大陆的台弯郎,晚上是R (鸭)陪客户,白天是D (猪)任人宰割!
--
※ 发信站: 批踢踢实业坊(ptt.cc)
◆ From: 61.64.224.203
※ 编辑: jfsu 来自: 61.64.224.203 (04/09 01:31)
1F:推 h816090:推 04/09 21:12