作者hoyo0708 (hoho)
看板Electronics
标题[请益] 电致迁移(electron migration)的原理
时间Fri Mar 28 21:54:01 2008
各位版上的高手..小弟在这里有个问想向大家请教..
在表面物理及半导体产业常听见电致迁移..
金属导线在高电流(高电场)的长时间作用之下..
金属原子本身会朝向电子流动的方向发生移动..
而使得线材发生了形态上的改变..
甚至到最後会造成断路的现象..
上网查过一些资料..大都是说因为金属原子受到电子长时间的撞击..
而使得金属原子朝向电子流动的方向移动..
我这里有一个想法..
因为原子核本身是带正电的..
在大电流..同时也是大电场的作用之下..
带正电的原子核移动的方向应该是和电子流反方向才对.,.
还是说相对而言..这样的效应比较弱..
希望大家能指正我想法上的错误..
谢谢大家..
--
※ 发信站: 批踢踢实业坊(ptt.cc)
◆ From: 220.133.134.222
1F：推 cpt:有些情况下电流虽大电场却不会很大(例如导线很长) 03/28 23:25