作者Marsch ( )
站内Electronics
标题[问题] conductance method
时间Wed Jun 6 01:05:42 2007
各位先进
我想要利用conductance method来计算interface trap density对energy band分布
从国内的论文搜寻中
多半只利用这个方法计算"单一Dit" 也就是没有对频带作图
而从书上看来
要由Gp/w-w图计算到surface potential似乎是个耗大工程
paper中很多国外使用这个方法
但是paper也都不会把量测方法讲得很详细
目前我只量出peak 但是不知道计算式中的band bending要怎麽得到
还有 我的基底不是矽 所以很多经验公式与图不能用@@
不知道有没有人有做过这方面的量测与计算
愿意拨空指点
谢谢
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本来要用hi-lo量 但是QS量不出来
所以只好改用conductance
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