課程名稱 P102209 積體電路測試技術 開課時數 15小時 上課費用 一般價4,500元 特約廠商、3人以上團報4,000元 峡查詢特約商明錄 峡立即加入特約廠商 同服務單位五人以上團報3,000元 開課日期 103年6月16日至6月30日 每週一、三、四 晚間18:30~21:30 開課地點 交通大學工程四館教室與電腦教室 （教室地點於課前，以行前通知另行公佈） 地址：新竹市大學路1001號 招生對象 半導體產業暨相關系統業者之在職人士或有相關技術需求者 結訓 本課程核發「結訓證書」依據為出席率8成以上（依據簽到退表資料） 課程目標 本課程為積體電路測試技術課程，期讓學員深入瞭解測試技術。邀請測試領域 的專家，詳細介紹傳統與最先進的測試與可測試設計技術。學員在學習之後，不但能夠解 決多樣化積體電路(IC)測試的問題，更能夠在設計之中加入測試的概念，設計出高品質與 低測試成本的IC。 課程大綱 1. Introduction to scan design 2. Fundaments of fault simulation & ATPG 3. Scan chain insertion & ATPG with scan design (實作) 授課師資 趙家佐 教授 現職：國立交通大學電子工程系助理教授 經歷：美國加州大學聖塔芭芭拉分校 研究助理 NEC紐澤西研究實驗室 研發人員 專長：Statistical timing analysis、delay testing、test-response 、 compaction、physical automation、low-power testing ※報名方式：1.傳真（03-5711992）、email（[email protected]）回覆本報名表均可 。 2.線上報名請至網站 http://submic.ee.nctu.edu.tw 點選『開課報名』依步驟報名。 ※選課前請詳閱課程簡章，報名後恕不受理退費或轉科。 ※連絡方式：交通大學電子系人才培訓中心 陳敏玉小姐 電話 (03) 5731744 傳真(03)5711992 地址：300新竹市大學路1001號 工程四館312A室, 網址：http://submic.ee.nctu.edu.tw Email：[email protected] --

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