※ [本文轉錄自 comm_and_RF 看板] 作者: OscarJeff (藝術與城市) 看板: comm_and_RF 標題: [新聞] 成大研發全自動虛擬量測 有效提高產品良率 時間: Wed Oct 28 22:34:29 2009 ※ [本文轉錄自 graduate 看板] 作者: OscarJeff (藝術與城市) 看板: graduate 標題: [新聞] 成大研發全自動虛擬量測 有效提高產品良率 時間: Wed Oct 28 22:31:29 2009 抽測改全測 AVM降低產業不良品 中廣 更新日期:"2009/10/26 21:35" 成功大學開發出「全自動虛擬量測(AVM)」技術」，對於台灣最夯的半導體、面板產業、 太陽能產業，能有效提高產品的製造良率、降低成本，不少科技大廠，都和成大簽約，導 入這項系統到生產線，預估可創下上億商機。(陳映竹報導) 研發「全自動虛擬量測(AVM)」技術」的成大E化製造研究中心主任鄭芳田表示，這項技術 可應用在各種需要大規模產量的產業，在台灣最具代表性的就是半導體、面板產業、太陽 能產業，這些產業生產製程上的機台，都需要進行週期性的監控，確保所有機台都有穩定 品質，但如果無法及時偵測，產出大量不良品，將造成極高成本損失。 鄭芳田舉例，半導體晶圓廠目前的品管，抽測結果必須耗費4到6小時。但這項系統可以進 行即時的產品預測和機台效能監控，也能取代部分實際量測。 這項技術已經申請共17項專利，繼台積電、奇美之後，也和先知科技舉行技轉簽約，預估 可創台幣數億元的商機。 --

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