作者themethod (answer)
看板NEMS
標題[問題] 探針與待測物的接觸點
時間Wed Nov 7 17:37:37 2012
各位板大好~
我的實驗需要以探針量測某薄膜的電阻vs時間變化
目前是在薄膜上塗導電銀膠, 用探針接觸導電銀膠量測
由於常接觸不良, 我便稍微用探針"壓"在銀膠上確保完全接觸
但這樣使用多次後銀膠會有點變形...
想請問有做過類似量測的板友是怎麼克服呢?
敝實驗室在這方面還是新手, 還有請多多指教 <(_ _)>
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※ 發信站: 批踢踢實業坊(ptt.cc)
◆ From: 140.114.43.203
※ 編輯: themethod 來自: 140.114.43.203 (11/07 17:38)
1F：推 HDview:一定會的吧 頂多塗厚一點 11/08 12:11
2F：→ themethod:所以這是正常狀況嗎!? 11/08 13:15
3F：推 thlu1:正常的吧~看你probing的OD值 11/12 21:36