作者TarTo (害羞小男孩)
看板Electronics
標題[問題] IC測試疑問
時間Sun Aug 28 22:02:44 2016
Hi 小弟對於IC測試有幾個疑問,想要與板上前輩們請益
1.EQC:
所謂EQC就是對測試完Pass的IC做抽樣測試,會用比較寬的limit做測試,
正常來說是要100% PASS的.
2.測試flow
測試flow一般有兩種1.fast binning(測到某個item fail就停止測試)
2.Run to end (測試所有item不管有沒有fail)
但若是在EQC時,使用Run to end會有造成打死IC的可能,這是為什麼呢?
希望版友們能幫忙解惑,謝謝
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1F：→ TarTo: high power進去 有可能造成damage嗎? 08/30 01:12
2F：推 magi2: 直接run to end可能發生非預期結果，最常見就是ic放反或放 08/30 09:09
3F：→ magi2: 錯型號，應該會停在open short，結果因為byPass讓後面的項 08/30 09:09
4F：→ magi2: 目給燒了 08/30 09:09
5F：→ windlins: 你全測的話等於是開override在測,有可能測到後面margin 09/13 19:02
6F：→ windlins: fail二次測則超出spec fail,若是DC的測項要注意電流是否 09/13 19:02
7F：→ windlins: 有越測越大的現像,若EQC越測越多fail那就需要整批報廢了 09/13 19:02
8F：→ windlins: 。 09/13 19:02