作者Kovainen (卡瓦寧)
看板Electronics
標題[問題] DFT Compiler測試涵蓋率的問題
時間Sun Aug 21 14:07:56 2016
請問一下板上先進
在使用Synopsys的DFT Compiler時
會有一項是測試涵蓋率(Test Coverage)的資訊
請問所代表的意義為何呢?
測試涵蓋率越高是否代表電路的容錯效果越好?
另外測試涵蓋率與錯誤涵蓋率的差別為何呢?
錯誤涵蓋率是否可由DFT Compiler測得呢?
以上問題盼各位DFT領域的高手回答
感激不盡
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1F：推 Leadgen: 在測你的Pattern跑過多少含蓋率。But你的Pattern對不對 08/21 19:16
2F：→ Leadgen: 要自己看，因為對不對只有你自己知道。 08/21 19:16
3F：→ lovepy: fault coverage的分母是所有可能發生的錯 08/24 23:17
4F：→ lovepy: test coverage分母是所有可被測得的錯 08/24 23:18
5F：→ lovepy: 代表電路本身的可測試性 也隱含了test pattern的quality 08/24 23:20
6F：→ lovepy: DFT Compiler產生的是估算出來的 還要透過ATPG tool真的去 08/24 23:20
7F：→ lovepy: 產生test pattern 算出來的才是真正的test/fault coverage 08/24 23:21
8F：→ lovepy: 詳情可參考VLSI Testing的教科書 08/24 23:22
9F：→ lovepy: 若是Coverage低 測試時晶片有錯但卻檢查不出來 出貨就G了 08/24 23:26