作者gecer (gecer)
看板Electronics
標題[問題] 請問幾個半導體測試的專有名詞
時間Sat Aug 13 20:10:18 2016
小弟看到半導體測試機會有參數名稱 "probe to pad alignment" "Overdrive"
請教這兩個名詞是什麼意思?
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1F：推 chen20: OD針壓 08/14 13:51
2F：推 ece8324: probe to pad alignment 指的應是待被測試元件上的 test 08/14 16:38
3F：→ ece8324: pad 與測試配件(例如probe card,中譯為探針卡)需做好定位 08/14 16:38
4F：→ ece8324: (alignment)的動作，才能做正確有效的測試 08/14 16:38
5F：→ ece8324: 上述有效正確的測試，除了要做定位(alignment)外，該測試 08/14 16:44
6F：→ ece8324: 配件亦需許加上適當的針壓(O/D: overdrive)在該待測試元 08/14 16:44
7F：→ ece8324: 件上 08/14 16:44
8F：→ ece8324: 定位動作的做法是，找尋該待測試元件上的特殊唯一的圖案( 08/14 16:48
9F：→ ece8324: pattern)，去對每個待測試元件定位 08/14 16:48
10F：→ ece8324: 如有錯誤，請指正 08/14 16:49
感謝大大清楚解說 不過小弟想知道為什麼OD單位也是"距離" ex 50um
※ 編輯: gecer (114.32.180.150), 08/15/2016 08:20:09
11F：推 ece8324: 你想像一下打針用的針筒，當針筒戳進某一個物件裡，戳進 08/15 13:10
12F：→ ece8324: 去的深度把它類比成針壓，這樣解釋，ok嗎 08/15 13:10