作者candy88257 (阿泰斯)
看板Electronics
標題[問題] 量測振動訊號的兩個探針,其差異為何?
時間Sat Jul 4 18:20:21 2015
假設要量如圖中的晶片的振動訊號:
http://i.imgur.com/MudLnuW.jpg
會用一台量測儀器,那台量測儀器會有兩根探針,分別接觸那個晶片的兩個量測點,然後
就量到振動訊號了,
據我所知那台量測機器是透過探針,給予晶片一個瓦數的功率,使晶片振動,然後接收
訊號,
想請問一下,有沒有人量測過類似的東西?
請問兩個探針分別的功用為何?
照理講應該兩個電極要有電位差,晶片才會振動,故兩個探針應該是給予晶片的上下電極
相反的電位差?
如果是的話,但是那台量測儀器只能設定要給晶片多少功率...,沒有電位相關的設定...
請問有人知道那兩個探針的原理嗎?
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1F:推 yihyanlin: 應該有spec吧? 看來是壓電式感測元件 07/06 01:50
補充:
是這個:
http://saunders-assoc.com/httpdocs/datasheets/250b1/6300352.pdf
※ 編輯: candy88257 (61.231.6.140), 07/08/2015 07:18:03