※ 引述《basstone (小聲跟你說)》之銘言： : icp-ms的干擾有四種.... : 大部分和質量有關.... : 請問板上的高手要如何解決干擾勒... : 研究所有一年也有考過... : 我只有找到干擾沒有找到解決方法.... 要解決干擾，先要看你面對的是哪一個問題。 簡單敘述如下.. 常見的干擾可分為光譜性干擾與非光譜性干擾， 非光譜性干擾常見的為基質所產生的效應， 並非待測物光譜或質譜上的重疊，造成的問題為相乘性的(multiplcative)。 檢量線繪製出來後，往往與單純水樣的檢量線間， 會有一個因子的差距，而非整個檢量線於y軸象限上的平移。 肇因通常為樣品內的基質成份過於複雜， 例如分析血液或尿液等生物樣品中的金屬元素。 解決的方法，一般而言若樣品中待測物濃度夠高的話， 藉由稀釋來降低樣品基質造成的影響是最簡單且可行的方法。 如果樣品中的待測物濃度不夠，則必須考量用標準添加法來進行實驗。 甚或選取適當的前處理步驟來先對樣品進行去除鹽分或基質， 再予以上機測定。 比較特別的有因樣品本身黏滯度或表面張力影響樣品吸取效果或霧化效果， 進而影響測定感度，這類因樣品物理特性而影響測定的， 稱為物理干擾（physical interference）， 如配置在較高比例酸液中的樣品便會有此類干擾的考量。 另一項為光譜性干擾， 主要來自樣品基質在待測物譜線或測定質量上， 有非來自待測物所貢獻的訊號，造成測定上的誤差， 便是光譜性干擾，其產生的影響往往是加成性的(additive)， 通常無法以簡單的品保品管辨識出來。 主要有同量素(isobaric interference）干擾， 為待測元素受到另一元素同位素的分布而產生的干擾。 如測定Ca，若選用40，會受到Ar-40的影響， 簡單的可選用其他的同位素質量來作測定， 不然也可以選用較高解析度的質譜儀來辨識期間的差異。 (此為物理解析的觀念。） 大家比較耳熟能詳的是複合離子干擾(polyatomic interference)， 主要為待測物受到其他質量數較低的原子在 ICP尾焰低溫區結合產生的干擾。 這些複合離子通常以兩個較輕質量數的元素或與ICP主成份氣體-Ar間的結合為主， 如最常見的造成砷(As-75)測定問題的ArCl(75)， 一堆不易測定的過度元素如V、Cr則是來自於ArC、ClO， Se測定時所受到的Ar dimer、ArCl、BrH， Fe測定時所受到的ArO皆是造成這類的干擾的原因。 一般來說質量數大於90以上的元素較不必考慮此類問題，因其產生複合離子的機率低。 解決的方法，除了上述的高解析質譜儀之外， 若能事先分離樣品中的Na、Cl之類的基質也有相當程度的助益。 也可以利用數學公式的方法來扣除干擾(elemental equation)， 例如針對造成As-75的ArCl(40-35)干擾， 可以先計算ArCl(40-37)的強度來反推其在75的貢獻， 將m/z-75所得的訊號值扣除計算出的結果，便為單純由As所貢獻的訊號。 較新的方法是在其中間導入一個碰撞/反應腔， 藉由熱動力學的原理來對於能量較低的複合離子來進行去除的動作， 相對於高解析質譜儀之使用電場與磁場之使用物理方式對待測物區分的物理解析方法， 這類使用化學反應來對複合離子與待測物區分之方式， 特稱為化學解析的方法。 當然選擇其他未被干擾的質量數是一簡單直接的方法， 但在部份沒有同位素可選擇的前提時， 就須考量上述的解決方式。 --

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