作者littlest (讀冊人...)
看板ChemEng
標題[問題] 關於Ni結晶度的量測 (急~~~)
時間Sun Apr 3 00:22:11 2011
※ [本文轉錄自 PhD 看板 #1DbqjyjW ]
作者: littlest (讀冊人...) 看板: PhD
標題: [問題] 關於Ni結晶度的量測 (急~~~)
時間: Sun Apr 3 00:14:49 2011
之前投稿一篇paper, 關於利用無電電鍍得到多孔性結晶鎳的研究,
最近結果回來了, major revision,
我們用了SAED跟XRD鑑定合成出來了鎳是高度結晶性的,
可是reviewer給的其中一段comments是這樣的:
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Both SAED and XRD can only detect crystalline impurities,
but I would expect at least the presence of an amorphous oxide layer.
Photoemission spectroscopy should be used to check for the presence of
an oxide layer.
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因為這一篇研究是我第一次跨到金屬材料領域, 所以有些地方不是很了解,
想請問對於金屬材料鑑定熟悉的專家, 如果從我的SAED跟XRD結果,
都無法明顯看到 NiO 或是 Ni(OH)2 的存在時, 真的如reviewer講得, 證據仍不足,
還是要做 XPS 的量測嗎? 還是說有其他更簡單跟直接的證據去說服這件事呢?
此外, 若要量測多孔性材料的密度時,
有什麼方法可以量測小量的sample?
(因為sample量很少, 所以希望檢測的方法越不消耗sample越好)
因為editor給我的回覆時間只有三星期, 怕時間會來不及做實驗,
謝謝各位大大回覆
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◆ From: 61.216.0.93
※ littlest:轉錄至看板 Chemistry 04/03 00:21
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1F：推 NBL123:不知道你TEM的試樣是怎麼做的 如果是cross section 04/03 01:11
2F：→ NBL123:有沒有oxide layer應該很清楚看得出來 04/03 01:12
3F：推 GSJ:同樓上 看看HR有沒有 amorphous layer就好啦 04/06 23:50