作者easystyle (还是在这里)
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标题[问题] 如何分辨MIS中的的缺陷型态
时间Mon Apr 7 10:13:20 2008
MIS的结构中氧化层的缺陷型态共有4种
1.fixed oxide charge
2.mobile charge
3.interface trapped charge
4.oxide trapped charge
找了小施敏的书并没有发现说要怎麽去分辨出来
找了一些论文也没有说要怎麽分辨
大多都只是介绍这4种的形成原因跟影响
不知道版上有哪位前辈知道这4种缺陷要怎麽去分辨出来呢
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