作者Hydrisk (明日香)
看板Yup00-02
标题Introduction
时间Sat Oct 15 12:31:53 2005
光致电流(OBIC，optical beam induced current)之成像技术已被广泛地应用於半导体元
件及积体电路之量测上。传统的光致电流即是以连续波雷射(CW laser)照射半导体元件，
使其在空乏区(depletion region)上产生电子电洞对，这些载子可藉由外加逆偏压及回路
而被侦测，
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