作者kmands (E M P T Y)
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标题[问题] 请问该用何种检定方法?
时间Wed Apr 13 20:42:58 2011
最近在公司遇上了一个问题，想请教大家，主要是公司想了解甲、乙两机台的差异
，以同样的48片晶片给甲、乙机台scan，分别扫出GOOD与NG的晶粒，因机台差异，
所以同一片晶片两台扫出之GOOD与NG的晶粒数各有不同，如下:
第一片 甲 GOOD 100颗 NG 2颗 良率 100/(100+2)
乙 GOOD 98颗 NG 3颗 良率 98/(98+3)
以此类推 甲、乙各有48笔良率，估且不论良率的算法正确与否，请问这可以使用
何种检定法呢?
我有猜测可能使用成对t-test，但好像又觉得怪怪的，想请问资深的前辈给予指点!!
谢谢!!
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※ 发信站: 批踢踢实业坊(ptt.cc)
◆ From: 114.43.193.38
1F：→ gsuper:如果甲乙机台同行号 , 购入年份同期 , 之前无重大维修纪录 04/13 20:51
2F：→ gsuper:或许可以用 paired t test 04/13 20:52
3F：→ gsuper:但若怀疑两者不同 , 用 unpair 比较保险 04/13 20:53
4F：→ gsuper:这种资料我觉得跑2*2卡方检定比较好,因为 p甲=2/102 , 04/13 20:54
5F：→ gsuper:p乙=3/101 , 感觉用常态迫近不是很有信心 04/13 20:55
6F：→ yhliu:Paired binary data, 用 McNemar test. 04/14 00:48
7F：→ yhliu:不是 binary data? 也没有 "成对" 资讯? 04/14 00:50
8F：→ diplazium:建议用无母数分析的Fisher's Exact Test或者 04/14 08:35
9F：→ diplazium:"Test of Proportions" 04/14 08:36
10F：推 evoodoo:poisson distribution, but use chi squre test is ok 04/19 07:41