作者WANG3213 (WANG3213)
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标题Re: [问题] 想请问大家一个问题...
时间Fri Dec 29 11:02:39 2006
※ 引述《Trulli (剩一个月了阿)》之铭言:
: 目前在公司遇到的问题
: 总觉得怪怪的
: 我们公司现在在 因为时间成本的关系 要利用抽测的方式 了解wafer的良率
: 以一个lot为单位 一个lot的wafer有25片 固定每25片抽五片 以1 7 14 20 25这五片去抽
: 想去了解这个lot(25片)的良率是否合乎标准
: 想请问的是 这样每次都固定1 7 14 20 25的顺序去抽测wafer 会对检测的结果造成影响吗
: 如果是以随机抽片 抽测结果会更好吗(更接近全测结果)
: 还有如果加测为抽六片去测 或减测为抽四片
: 以25片为单位来说 会对结果造成很大的影响吗
: 总觉得公司原本的抽测方法有点怪 先谢谢大家的回答
如果说贵公司生产线上的每一个wafer的好坏,是完全独立的,那这样作完全没问题,
因为好坏是随机出现,那你固定取跟随机取不会有差别,这就是"系统抽样"的原理
但是,如果wafer的好坏生产线上wafer的好坏,有固定模式出现,那就可能会出问题了
例如在装进lot里时,说不定第1个跟最後1个wafer,由於装件机械的关系,
特别容易损坏,那麽这样的检查方式,当然容易导致良率偏低。
也就是如果你的样本有某种模式,最好就不要使用系统抽样,或者要精细的使用
例如我有一笔1000位学生的资料,要抽样50位学生的身高,来估计全体学生的身高
若已知这笔资料是按身高排序过了,只是不知道值(就想像他们是排好队让你抽好了)
这时候,随机抽还不如每隔20个抓1个,因为这样抽的样本,会更接近母体的分布
所以估出来的值,变异会更小。
因此我的建议是,可以就现有的资料试试看能不能找出产品的好坏是否有某种模式
例如把所有的第1个、第7个、......、第25个分别集中起来看看良率是否有差异
或是其他可能想得到的模式(当然,这就需要对生产流程很了解才看的出来)
如果没有,那系统抽样仍是较佳的选择,因为它避免了麻烦
要知道,完全的随机抽样,是很麻烦且费力的
如果有,那就再来考虑适当的抽样方式
至於增加或减少样本,当然会增加或减少估计良率的误差,但这同时也增加或减少成本
按照你的数据,多抽一个,那就是多20%的成本,少抽一个,那就是少20%的成本
就学者的观点当然是抽越多越好,但老板会骂你疯了
而且有时後抽太多也是吃力不讨好的,要知道 1/√n 法则,
也就是增加越多样本,误差反而会越降越慢,
所以应该适当的选择样本数来控制成本与准确度
那,怎麽选择,当然又是了解工厂的人做决定啦!
希望有回答到你的问题~~~
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