作者Trulli (剩一个月了阿)
看板Statistics
标题[问题] 想请问大家一个问题...
时间Wed Dec 27 23:09:17 2006
目前在公司遇到的问题
总觉得怪怪的
我们公司现在在 因为时间成本的关系 要利用抽测的方式 了解wafer的良率
以一个lot为单位 一个lot的wafer有25片 固定每25片抽五片 以1 7 14 20 25这五片去抽
想去了解这个lot(25片)的良率是否合乎标准
想请问的是 这样每次都固定1 7 14 20 25的顺序去抽测wafer 会对检测的结果造成影响吗
如果是以随机抽片 抽测结果会更好吗(更接近全测结果)
还有如果加测为抽六片去测 或减测为抽四片
以25片为单位来说 会对结果造成很大的影响吗
总觉得公司原本的抽测方法有点怪 先谢谢大家的回答
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