课程名称 P102209 积体电路测试技术 《数位IC之Scan Design与Test Pattern自动产生技术》 开课时数 15小时 上课费用 一般价5,000元 特约厂商、3人以上团报4,000元 峡查询特约商明录 峡立即加入特约厂商 同服务单位五人以上团报3,000元 开课日期 102年9月24日至10月8日 每周二、三 晚间18:30~21:30 开课地点 交通大学工程四馆教室与电脑教室 （教室地点於课前，以行前通知另行公布） 地址：新竹市大学路1001号 招生对象 半导体产业暨相关系统业者之在职人士或有相关技术需求者 结训 本课程核发「结训证书」依据为出席率8成以上（依据签到退表资料） 课程目标 本课程为积体电路测试技术课程，期让学员深入了解测试技术。邀请测试领域 的专家，详细介绍传统与最先进的测试与可测试设计技术。学员在学习之後，不但能够解 决多样化积体电路(IC)测试的问题，更能够在设计之中加入测试的概念，设计出高品质与 低测试成本的IC。 课程大纲 1. Introduction to scan design 2. Fundaments of fault simulation & ATPG 3. Scan chain insertion & ATPG with scan design (实作) 授课师资 赵家佐 教授 现职：国立交通大学电子工程系助理教授 经历：美国加州大学圣塔芭芭拉分校 研究助理 NEC纽泽西研究实验室 研发人员 专长：Statistical timing analysis、delay testing、test-response 、 compaction、physical automation、low-power testing 报名网址:http://submic.ee.nctu.edu.tw/curriculum/curriculum.php?Sn=390 --

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