作者SkyLark2001 ( )
看板NEMS
标题Re: [问题] lift-off问题(已补上资讯)
时间Fri Nov 30 11:45:33 2012
先抱歉原本要推文,但因为推文会造成推文数太多然後又不好阅读所以
就先回文,不是想洗版不好意思
用DSAM的目的是什麽?基本上lift-off的金属厚度跟底下光阻厚度相比差距越大越好做
也不一定不要转。这样造成你的镀膜厚度不均匀是很可观的。怕阶梯覆盖
而不在镀膜时转wafer有点因小失大了。
而且你的最小线宽也有差。当然厚度越厚的光阻显小线宽越吃力而且显不乾净,
这之中的tradeoff要自行拿捏
如果你的最小线宽都可以到5-10um以上的话用手边的4620厚光阻成功机率就很大。
1.3um的光阻 lift-off 200nm的金属也蛮常见的,但大多佐以超音波震洗
超音波震洗是双面刃。我都要尽量多泡几天甚至用acetone水柱去冲结构把百分之八九十
以上不要的金属层都冲刷掉,然後才去稍微震洗一下。
不然当镀完的wafer直接拿去狂震,那震成碎屑的金属小颗粒黏在你最终的金属膜上怎样
清都很难清乾净。
另外你的LOR是很棒的点子,但我建议可以用转两层你的DSAM,第一层DSAM就是拿来取代
LOR的
http://www.hindawi.com/journals/biomed/2012/647265/fig1/
lor那麽薄是因为大多用来作奈米等级线宽的lift-off
现在若是你的线宽是微米等级,那用你原本1um的光阻取代LOR就会有比使用LOR有更高的
成功机率。
记得第一层光阻要稍微过曝不用光罩,不要显影,直接转第二层。
若你没做过我们可以再讨论详细步骤
这篇讨论串也供原po(在铌酸锂上pattern IDT)参考。
对了还有镀膜的方式
http://osdir.com/ml/science.microelectromechanical-systems/2002-07/msg00084.html
这个讨论串里面有讲到Sputter的SiO2造成光阻的劣化所以不易lift-off
所以你可以考虑Evaporate优先。这样子就只要优先考量光阻对高温的抵抗力。
※ 引述《HDview (新视野)》之铭言:
: 推 Jeffch:oxide liftoff原则也是一样的,主要就是避免光组不够高, 11/28 04:42
: → Jeffch:以及因为旋转而镀到壁上...sample面积小的话其实可以不用转 11/28 04:42
: 请教一下 如果我使用
: 1.正光阻DSAM-3020 厂商是写约1.3um厚
: 加上
: 2.Lor 3B lift-off 光阻约 300~500nm厚
: 然後蒸镀的时候又不旋转的话
: 有可能oxide liftoff 300nm SiO2吗
: SiO2 镀膜可能会用 RF sputter 或是ebeam evaporation
: 希望有经验的各位先进给点建议
: 谢谢~~~
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本球队一切依法行政,谢谢指教。
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◆ From: 173.250.163.53
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