作者willy31418 (Afu)
看板Mechanical
标题[讨论] 测量热传导系数
时间Sat Mar 23 01:24:02 2019
如题，各位资深的热流专业大大们
想请问目前有没有仪器设备可以测量
任何尺寸样品的热传导系数，
目前公司主要目的是想量测厚度
约为1微米的薄膜材料之热传导系数
不知道有没有能做到的仪器。
另外，我在网上无意间找到一家代理
公司，叫势X科技，他们有样产品感觉
符合我想要的条件，但我对他抱持一些
疑问，想请高手们帮我解答
https://i.imgur.com/jOz7eqA.jpg
如图他的产品原理写说：
利用探头的加热元件上会发出
一股热源提供小面积的热量，
这股小面积的热源将升高探头与样品
接触的表面温度( 通常会低於2度)，
这个在表面升高的温度会导致探头
热元件上电压的降低。
探头热元件的电压升高的比率
将被用来决定样品材料的热物理性质，样品材料的热物理性质与探头热元件
的电压率成反比，探头的电压降与
探头介面的温升相关。
利用此原理，我们可以快速测得热传导的相关系数并且测试结果可即时显示在软体上。
但我导不出电压变化量与k值的关系
实在不是很懂他的原理。
在这之前，我们量测有厚度的材料都是
利用测量两边面的温度差，透过傅立叶定律来求得k值，但因为薄膜太薄故不适用，所以
想问问各位觉得这款商品
只要量测单面即可求的k值的方法是不是正确的，好让我慎重的考虑购买，
谢谢各位，麻烦了。
如果违反版规，请告知我会立即下架。
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※ 发信站: 批踢踢实业坊(ptt.cc), 来自: 49.218.68.22
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※ 编辑: willy31418 (49.218.68.22), 03/23/2019 01:25:57
1F：推 spirit119: 不负责任乱猜 Transient Plane Source Method？ 03/23 04:52
2F：推 leebiggtest: 不负责任乱猜 靠热膨胀收缩 然後再推回去求k 03/23 09:13
3F：推 Enoch0118: 楼上应该是对的，一般温度量测都是靠热膨胀原理让材料 03/23 11:46
4F：→ Enoch0118: 产生电压变化进而推算出该点的温度，而已知待测物上下 03/23 11:46
5F：→ Enoch0118: 温差及给定额的瓦特数，就可以推算出材料的热传导系数 03/23 11:46
6F：→ Enoch0118: 了。 03/23 11:46
7F：推 sshyu954: 通常必需依据规范来做，你可以查一下 03/23 14:50
8F：推 spp100: 特徵长度是1微米, 请问热传导系数与特徵长度的线性关系 03/24 00:00
9F：→ spp100: 存在的范围区间. 这样会不会比较容易写成论文? 03/24 00:02
10F：→ shiow1026: 电压变化只是温度产生的席贝克效应吧 根据这个就可以 03/24 02:19
11F：→ shiow1026: 知道温度差… 03/24 02:19
12F：→ shiow1026: 目前我知道两种量测薄膜的最佳方法就雷射脉冲和3-omeg 03/24 02:34
13F：→ shiow1026: a方法 这种探针式的顶多0.01mm就很极限了 03/24 02:34
14F：→ willy31418: shiow大，你的回答很有帮助！ 03/25 14:40
15F：→ willy31418: 谢谢！ 03/25 14:40
16F：→ willy31418: 但我想问，这个仪器只有单边接触样品，金色那个只是砝 03/25 14:48
17F：→ willy31418: 码，这样的话算是席贝克效应吗？谢谢 03/25 14:48
18F：→ shiow1026: 你好像有点误会了 温度造成电压差 这叫席贝克效应 不 03/26 15:08
19F：→ shiow1026: 管你几面接触 都是一样 03/26 15:08
20F：→ willy31418: 好的，谢谢你的回覆 03/26 15:27
21F：推 shiow1026: 目前最准的就3-omega方法 我最薄的厚度有到2奈米 不过 03/26 16:46
22F：→ shiow1026: 我是送去日本认识的实验室测就是了… 03/26 16:46