作者dbdbdb17 (db)
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标题Re: [请益] 非破坏式 薄膜量测仪器
时间Fri Dec 28 22:12:30 2012
※ 引述《mac123 (mac)》之铭言：
: 各位板上的朋友,你们好
我想询问...哪种仪器,可以量测coating镀层厚度(2种镀层以上)
: 但是要非破坏式的量测,
: 重点是,不知道coaing镀层成分之下,是否有合适的仪器,可以量测出来?
: 谢谢
镀层用一般超音波因该可以
但可能会有近表面死区的问题
可以试试看搭配延迟探头
(可解决死区)
或是水浸法(设备较贵还有尺寸大小的问题)
不过业界有在量测膜厚的仪器就是了
以上仅供参考~XD
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